Published July 1, 2019
| Version v1
Publication
Demonstration of a robust insertion loss measuring approach for low-loss silicon photonic devices
Description
A robust optical insertion loss measuring approach based on a symmetrically coupled add-drop microring resonator is demonstrated on silicon-on-insulator platform. Utilizing resonant wavelengths and relative values of measured optical power, this approach frees the insertion loss measurement from the uncertainties caused by experimental set-up, including system alignment and wavelength dependence of the couplers. Strip-slot mode converters were fabricated and measured to present the exemplary insertion loss measurement process. A series of experimental results confirm that the insertion loss of the low-loss silicon photonic devices can be accurately and reliably obtained even the adopted couplers are wavelength-dependent, and the fibers are deviated 15 μm from the horizontal direction and 110 μm from the vertical direction, exhibiting excellent robustness to the experimental set-up.
Translated Descriptions
⚠️
This is an automatic machine translation with an accuracy of 90-95%
Translated Description (Arabic)
يتم عرض نهج قياس فقدان الإدخال البصري القوي على أساس مرنان قطرة إضافية مقترن بشكل متماثل على منصة السيليكون على العازل. باستخدام الأطوال الموجية الرنانة والقيم النسبية للطاقة الضوئية المقاسة، يحرر هذا النهج قياس فقدان الإدراج من حالات عدم اليقين الناجمة عن الإعداد التجريبي، بما في ذلك محاذاة النظام والاعتماد على الطول الموجي للقارنات. تم تصنيع محولات وضع الفتحة الشريطية وقياسها لتقديم عملية قياس فقدان الإدخال النموذجية. تؤكد سلسلة من النتائج التجريبية أن فقدان الإدخال للأجهزة الفوتونية السيليكونية منخفضة الخسارة يمكن الحصول عليه بدقة وموثوقية حتى القارنات المعتمدة تعتمد على الطول الموجي، وتنحرف الألياف 15 ميكرومتر عن الاتجاه الأفقي و 110 ميكرومتر عن الاتجاه الرأسي، مما يدل على متانة ممتازة للإعداد التجريبي.Translated Description (French)
Une approche robuste de mesure de la perte d'insertion optique basée sur un résonateur à microréflexion à insertion-extraction couplé symétriquement est démontrée sur une plate-forme silicium sur isolant. En utilisant les longueurs d'onde de résonance et les valeurs relatives de la puissance optique mesurée, cette approche libère la mesure de la perte d'insertion des incertitudes causées par la configuration expérimentale, y compris l'alignement du système et la dépendance en longueur d'onde des coupleurs. Des convertisseurs de mode à fente en bande ont été fabriqués et mesurés pour présenter l'exemple de processus de mesure de perte d'insertion. Une série de résultats expérimentaux confirme que la perte d'insertion des dispositifs photoniques au silicium à faible perte peut être obtenue de manière précise et fiable, même si les coupleurs adoptés dépendent de la longueur d'onde, et que les fibres sont déviées de 15 μm par rapport à la direction horizontale et de 110 μm par rapport à la direction verticale, présentant une excellente robustesse au montage expérimental.Translated Description (Spanish)
Un robusto enfoque de medición de pérdida de inserción óptica basado en un resonador de microrización de adición y caída acoplado simétricamente se demuestra en la plataforma de silicio sobre aislante. Utilizando longitudes de onda resonantes y valores relativos de la potencia óptica medida, este enfoque libera la medición de la pérdida de inserción de las incertidumbres causadas por la configuración experimental, incluida la alineación del sistema y la dependencia de la longitud de onda de los acopladores. Los convertidores de modo tira-ranura se fabricaron y midieron para presentar el proceso de medición de pérdida de inserción ejemplar. Una serie de resultados experimentales confirman que la pérdida de inserción de los dispositivos fotónicos de silicio de baja pérdida se puede obtener con precisión y fiabilidad, incluso los acopladores adoptados dependen de la longitud de onda, y las fibras se desvían 15 μm de la dirección horizontal y 110 μm de la dirección vertical, mostrando una excelente robustez a la configuración experimental.Additional details
Additional titles
- Translated title (Arabic)
- عرض نهج قوي لقياس فقدان الإدراج للأجهزة الضوئية السيليكونية منخفضة الخسارة
- Translated title (French)
- Démonstration d'une approche robuste de mesure de la perte d'insertion pour les dispositifs photoniques au silicium à faible perte
- Translated title (Spanish)
- Demostración de un enfoque robusto de medición de pérdida de inserción para dispositivos fotónicos de silicio de baja pérdida
Identifiers
- Other
- https://openalex.org/W2956044749
- DOI
- 10.1364/oe.27.019827
References
- https://openalex.org/W1608409115
- https://openalex.org/W1972098226
- https://openalex.org/W1979427218
- https://openalex.org/W1981204644
- https://openalex.org/W1982830006
- https://openalex.org/W1987885416
- https://openalex.org/W1990396635
- https://openalex.org/W2022387327
- https://openalex.org/W2057718868
- https://openalex.org/W2116781024
- https://openalex.org/W2144050360
- https://openalex.org/W2150506787
- https://openalex.org/W2157420334
- https://openalex.org/W2220870060
- https://openalex.org/W2333496020
- https://openalex.org/W2336371078
- https://openalex.org/W2528284022
- https://openalex.org/W4256501225