Published January 1, 2014
| Version v1
Publication
Open
Applying the Analog Configurability Test Approach in a Wireless Sensor Network Application
- 1. Universidad Católica de Córdoba
- 2. National University of Villa María
- 3. National Technological University
Description
This work addresses the application of the analog configurability test (ACT) approach for an embedded analog configurable circuit (EACC), composed of operational amplifiers and interconnection resources that are embedded in the MSP430xG461x microcontrollers family. This test strategy is particularly useful for in-field application requiring reliability, safe operation, or fault tolerance characteristics. Our test proposal consists of programming a reduced set of available configurations for the EACC and testing its functionality by measuring only a few key parameters. The processor executes an embedded test routine that sequentially programs selected configurations, sets the test stimulus, acquires data from the internal ADC, and performs required calculations. The test approach is experimentally evaluated using an embedded system-based real application board. Our experimental results show very good repeatability, with very low errors. These results show that the ACT proposed here is useful for testing the functionality of the circuit under test in a real application context by using a simple strategy at a very low cost.
Translated Descriptions
⚠️
This is an automatic machine translation with an accuracy of 90-95%
Translated Description (Arabic)
يتناول هذا العمل تطبيق نهج اختبار قابلية التهيئة التناظرية (ACT) لدائرة قابلة للتكوين تناظرية مضمنة (EACC)، تتكون من مكبرات الصوت التشغيلية وموارد التوصيل البيني المضمنة في عائلة وحدات التحكم الدقيقة MSP430xG461x. تعد استراتيجية الاختبار هذه مفيدة بشكل خاص للتطبيق الميداني الذي يتطلب الموثوقية أو التشغيل الآمن أو خصائص تحمل الأخطاء. يتكون اقتراح الاختبار الخاص بنا من برمجة مجموعة مخفضة من التكوينات المتاحة لـ EACC واختبار وظائفها من خلال قياس عدد قليل فقط من المعلمات الرئيسية. يقوم المعالج بتنفيذ روتين اختبار مضمن يقوم ببرمجة التكوينات المحددة بالتسلسل، ويضبط محفز الاختبار، ويحصل على البيانات من ADC الداخلي، ويقوم بإجراء العمليات الحسابية المطلوبة. يتم تقييم نهج الاختبار تجريبيًا باستخدام لوحة تطبيق حقيقية مضمنة قائمة على النظام. تُظهر نتائجنا التجريبية تكرارًا جيدًا للغاية، مع أخطاء منخفضة جدًا. تُظهر هذه النتائج أن ACT المقترح هنا مفيد لاختبار وظائف الدائرة قيد الاختبار في سياق تطبيق حقيقي باستخدام استراتيجية بسيطة بتكلفة منخفضة جدًا.Translated Description (French)
Ce travail porte sur l'application de l'approche de test de configurabilité analogique (ACT) pour un circuit configurable analogique embarqué (EACC), composé d'amplificateurs opérationnels et de ressources d'interconnexion intégrés dans la famille des microcontrôleurs MSP430xG461x. Cette stratégie de test est particulièrement utile pour les applications sur le terrain nécessitant une fiabilité, un fonctionnement sûr ou des caractéristiques de tolérance aux pannes. Notre proposition de test consiste à programmer un ensemble réduit de configurations disponibles pour l'EACC et à tester sa fonctionnalité en ne mesurant que quelques paramètres clés. Le processeur exécute une routine de test intégrée qui programme séquentiellement des configurations sélectionnées, définit le stimulus de test, acquiert des données à partir du CAN interne et effectue les calculs requis. L'approche de test est évaluée expérimentalement à l'aide d'une carte d'application réelle basée sur un système intégré. Nos résultats expérimentaux montrent une très bonne répétabilité, avec de très faibles erreurs. Ces résultats montrent que la LOI proposée ici est utile pour tester la fonctionnalité du circuit testé dans un contexte d'application réel en utilisant une stratégie simple à un coût très faible.Translated Description (Spanish)
Este trabajo aborda la aplicación del enfoque de prueba de configurabilidad analógica (ACT) para un circuito configurable analógico integrado (EACC), compuesto por amplificadores operacionales y recursos de interconexión que están integrados en la familia de microcontroladores MSP430xG461x. Esta estrategia de prueba es particularmente útil para aplicaciones en campo que requieren confiabilidad, operación segura o características de tolerancia a fallas. Nuestra propuesta de prueba consiste en programar un conjunto reducido de configuraciones disponibles para el EACC y probar su funcionalidad midiendo solo unos pocos parámetros clave. El procesador ejecuta una rutina de prueba integrada que programa secuencialmente las configuraciones seleccionadas, establece el estímulo de prueba, adquiere datos del ADC interno y realiza los cálculos requeridos. El enfoque de prueba se evalúa experimentalmente utilizando una placa de aplicación real basada en el sistema integrado. Nuestros resultados experimentales muestran muy buena repetibilidad, con errores muy bajos. Estos resultados muestran que el ACT propuesto aquí es útil para probar la funcionalidad del circuito bajo prueba en un contexto de aplicación real mediante el uso de una estrategia simple a un costo muy bajo.Files
309193.pdf.pdf
Files
(15.8 kB)
| Name | Size | Download all |
|---|---|---|
|
md5:2182c9e9aaecfa209e5ac1b2aca09221
|
15.8 kB | Preview Download |
Additional details
Additional titles
- Translated title (Arabic)
- تطبيق نهج اختبار التهيئة التناظرية في تطبيق شبكة مستشعر لاسلكي
- Translated title (French)
- Application de l'approche de test de configurabilité analogique dans une application de réseau de capteurs sans fil
- Translated title (Spanish)
- Aplicación del enfoque de prueba de configurabilidad analógica en una aplicación de red de sensores inalámbricos
Identifiers
- Other
- https://openalex.org/W2069341517
- DOI
- 10.1155/2014/309193
References
- https://openalex.org/W1977382189
- https://openalex.org/W1983320508
- https://openalex.org/W1994122417
- https://openalex.org/W2049924211
- https://openalex.org/W2098410292