Published January 1, 2017
| Version v1
Publication
Open
Experimental study of optical and electrical properties of ZnO nano composites electrodeposited on n-porous silicon substrate for photovoltaic applications
- 1. University of Laghouat
- 2. Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l'Energétique
- 3. Laboratoire d'Étude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux
- 4. Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes
Description
ZnO films deposited on silicon porous substrates (PS) were prepared by electro-deposition anodization on n type (100) silicon wafer. This ZnO/PS structure combines substrates having specific structural and optical properties (IR emission), with nano-composites of ZnO potentially interesting due to their functional properties (UV emission) to be integrated as constitutive elements of devices in various optoelectronic applications mainly in blue light emitters. With this combined structure, the blue shift in the PL peak is possible and easy to obtain (467nm). The vibration modes of PS and ZnO films on PS substrates (ZnO /PS) were investigated by infrared (FTIR) measurements and their behaviors were analyzed and discussed by considering the structural properties characterized by X-ray diffraction (DRX) and scanning electronic microscopy (MEB).
Translated Descriptions
⚠️
This is an automatic machine translation with an accuracy of 90-95%
Translated Description (Arabic)
تم تحضير أغشية ZnO المترسبة على ركائز مسامية من السيليكون (PS) عن طريق الترسيب الكهربائي لأكسيد الألومنيوم على رقاقة السيليكون من النوع n (100). يجمع هيكل ZnO/PS هذا بين ركائز ذات خصائص هيكلية وبصرية محددة (انبعاث الأشعة تحت الحمراء)، مع مركبات نانوية من ZnO يحتمل أن تكون مثيرة للاهتمام بسبب خصائصها الوظيفية (انبعاث الأشعة فوق البنفسجية) ليتم دمجها كعناصر تأسيسية للأجهزة في مختلف التطبيقات الإلكترونية الضوئية بشكل رئيسي في بواعث الضوء الأزرق. مع هذا الهيكل المشترك، يكون التحول الأزرق في قمة PL ممكنًا وسهل الحصول عليه (467 نانومتر). تم فحص أوضاع الاهتزاز لأغشية PS و ZnO على ركائز PS (ZnO /PS) من خلال قياسات الأشعة تحت الحمراء (FTIR) وتم تحليل سلوكياتها ومناقشتها من خلال النظر في الخصائص الهيكلية التي تتميز بحيود الأشعة السينية (DRX) والمسح المجهري الإلكتروني (MEB).Translated Description (French)
Des films de ZnO déposés sur des substrats poreux de silicium (PS) ont été préparés par anodisation par électrodéposition sur plaquette de silicium de type n (100). Cette structure ZnO/PS combine des substrats ayant des propriétés structurelles et optiques spécifiques (émission IR), avec des nanocomposites de ZnO potentiellement intéressants en raison de leurs propriétés fonctionnelles (émission UV) à intégrer en tant qu'éléments constitutifs de dispositifs dans diverses applications optoélectroniques principalement dans les émetteurs de lumière bleue. Avec cette structure combinée, le décalage bleu du pic PL est possible et facile à obtenir (467 nm). Les modes de vibration des films PS et ZnO sur substrats PS (ZnO /PS) ont été étudiés par des mesures infrarouges (FTIR) et leurs comportements ont été analysés et discutés en considérant les propriétés structurelles caractérisées par la diffraction des rayons X (DRX) et la microscopie électronique à balayage (MEB).Translated Description (Spanish)
Las películas de ZnO depositadas sobre sustratos porosos de silicio (PS) se prepararon mediante anodización por electrodeposición sobre una oblea de silicio de tipo n (100). Esta estructura ZnO/PS combina sustratos con propiedades estructurales y ópticas específicas (emisión IR), con nanocompuestos de ZnO potencialmente interesantes por sus propiedades funcionales (emisión UV) para ser integrados como elementos constitutivos de dispositivos en diversas aplicaciones optoelectrónicas principalmente en emisores de luz azul. Con esta estructura combinada, el desplazamiento hacia el azul en el pico PL es posible y fácil de obtener (467 nm). Los modos de vibración de las películas de PS y ZnO en sustratos de PS (ZnO /PS) se investigaron mediante mediciones infrarrojas (FTIR) y sus comportamientos se analizaron y discutieron considerando las propiedades estructurales caracterizadas por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB).Files
e3sconf_asee2017_00155.pdf.pdf
Files
(24 Bytes)
| Name | Size | Download all |
|---|---|---|
|
md5:7624dcbc096921e31a1da610e19a546e
|
24 Bytes | Preview Download |
Additional details
Additional titles
- Translated title (Arabic)
- دراسة تجريبية للخصائص البصرية والكهربائية لمركبات النانو ZnO المرسبة بالكهرباء على ركيزة السيليكون المسامية n للتطبيقات الكهروضوئية
- Translated title (French)
- Étude expérimentale des propriétés optiques et électriques de nanocomposites de ZnO électrodéposés sur un substrat de silicium n-poreux pour des applications photovoltaïques
- Translated title (Spanish)
- Estudio experimental de las propiedades ópticas y eléctricas de nanocompuestos de ZnO electrodepositados sobre sustrato de silicio n-poroso para aplicaciones fotovoltaicas
Identifiers
- Other
- https://openalex.org/W2767579315
- DOI
- 10.1051/e3sconf/20172200155
References
- https://openalex.org/W1963576549
- https://openalex.org/W1966990596
- https://openalex.org/W1967002126
- https://openalex.org/W1970670723
- https://openalex.org/W1974359959
- https://openalex.org/W1976444311
- https://openalex.org/W1979840156
- https://openalex.org/W1995802276
- https://openalex.org/W2009390800
- https://openalex.org/W2013920006
- https://openalex.org/W2023433979
- https://openalex.org/W2031121220
- https://openalex.org/W2036684689
- https://openalex.org/W2039604119
- https://openalex.org/W2047302526
- https://openalex.org/W2047776144
- https://openalex.org/W2062551364
- https://openalex.org/W2066111854
- https://openalex.org/W2066956928
- https://openalex.org/W2077120385
- https://openalex.org/W2118265843